3225貼片晶振測(cè)試儀

一． 概述

CX-118A型晶振測(cè)試儀是一款用來(lái)測(cè)試晶振頻率、精度、漂移等指標(biāo)的通用測(cè)試儀器。

儀器采用超高精度的有源溫補(bǔ)晶振作為時(shí)間基準(zhǔn)；高速ECL電路進(jìn)行信號(hào)的整形、放大、計(jì)數(shù) ;單片機(jī)進(jìn)行系統(tǒng)管理及數(shù)據(jù)處理。儀器自身帶有*常用的Pierce振蕩電路，可以用來(lái)直接測(cè)試35MHZ以下的無(wú)源基頻晶振（超過(guò)35M的基頻晶振很少）、以及100MHZ以下的泛音晶振的基頻頻率。

二．功能及用途

CX-118A晶振測(cè)試儀可直接測(cè)量40MHz以下無(wú)源晶振的頻率、以及100MHz以下泛音晶振的基頻頻率，可滿足絕大部分晶振測(cè)量的需要。（絕大多數(shù)的基頻晶振頻率都<40MHz，泛音晶振多為3倍泛音，）?？芍苯訙y(cè)量插腳封裝晶振，配備“貼片晶振測(cè)試座”也可測(cè)量貼片封裝晶振；

該設(shè)備可以測(cè)量如下類型的參數(shù)：

1.頻率

2.周期

3.頻率偏差率

4.頻率漂移率

5.漂移監(jiān)測(cè)時(shí)間

三．主要技術(shù)指標(biāo)

1. 頻率測(cè)量范圍：32.768KHz-100MHz

2. 周期測(cè)量范圍：1ns-10s

3. 采樣時(shí)間（T）：0.01s、0.1s、1s、10s可調(diào)

4. 頻率分辨率(R.P.)：

T=0.01s 時(shí)R.P.=100HZ

T=0.1s 時(shí)R.P.=10HZ

T=1s 時(shí)R.P.=1HZ

T=10s 時(shí)R.P.=0.1HZ

5. 基準(zhǔn)頻率：10MHz

6. 基準(zhǔn)精度：2ppm

7. 測(cè)量精度：2.5倍基準(zhǔn)精度+1 R.P.

8. 外部輸入信號(hào)幅度：50mv-10v

9. 環(huán)境溫度：20±15℃

10. 電源：100-240v、50/60Hz

11. 功耗：<10W

 1.“參數(shù)選擇”功能：

該功能用來(lái)選擇顯示的參數(shù)類型。按壓“顯示選擇”鍵依次循環(huán)切換。發(fā)亮燈指示當(dāng)前顯示類型。

“漂移采樣”按鈕：用來(lái)啟動(dòng)漂移采樣或者停止漂移采樣。按鈕上方指示燈亮?xí)r表示“漂移測(cè)量”處于工作狀態(tài)。 啟動(dòng)漂移采樣時(shí)、顯示實(shí)時(shí)漂移率及漂移測(cè)量時(shí)間；停止漂移采樣時(shí)、顯示上次漂移率及漂移測(cè)量時(shí)間（如果測(cè)量時(shí)間=0、表示開(kāi)機(jī)后為啟動(dòng)過(guò)漂移測(cè)量）

漂移測(cè)量原理：?jiǎn)?dòng)“漂移采樣時(shí)，系統(tǒng)以當(dāng)時(shí)的頻率測(cè)量值作為基準(zhǔn)，然后實(shí)時(shí)比較采樣值，提取并保存*低頻率和頻率，計(jì)算相對(duì)于基準(zhǔn)的偏差，選取大者作為漂移值。

注意：（1）測(cè)量“偏差”值時(shí)必須將晶振的“標(biāo)稱值”作為“標(biāo)準(zhǔn)值“輸入系統(tǒng)（參見(jiàn)“標(biāo)準(zhǔn)   設(shè)置”說(shuō)明）

（2） 此處“時(shí)間”指的是漂移測(cè)量時(shí)間

2.“采樣時(shí)間”功能

該功能用來(lái)選擇系統(tǒng)進(jìn)行一次完整測(cè)量需要的時(shí)間。時(shí)間越短，測(cè)量速度越快，測(cè)量分辨率越低，相應(yīng)的測(cè)量精度就越差。（見(jiàn)“主要技術(shù)指標(biāo)—頻率分辨率(R.P.)、及測(cè)量精度）。除非使用“外部測(cè)量”接口、測(cè)量很低頻率的信號(hào)，選擇10s外，通常選擇1s或0.1s。

按壓該功能鍵、循環(huán)切換采樣時(shí)間。

3.“標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置”功能

偏差測(cè)量（俗稱ppm測(cè)量）是通過(guò)測(cè)量頻率值，然后通過(guò)與標(biāo)準(zhǔn)頻率值進(jìn)行比較運(yùn)算得到的。因此要準(zhǔn)確的測(cè)量偏差、就必須正確輸入標(biāo)稱值作為數(shù)據(jù)處理的標(biāo)準(zhǔn)值。

(1).“設(shè)置/測(cè)量”鍵：按壓該鍵可使系統(tǒng)狀態(tài)在“測(cè)量”狀態(tài)和標(biāo)準(zhǔn)值“設(shè)置”狀態(tài)間切換。當(dāng)前狀態(tài)由上方“測(cè)量”、“設(shè)置”燈指示。

(2)?！拔徽{(diào)整”鍵：用來(lái)調(diào)整輸入標(biāo)準(zhǔn)值時(shí)的數(shù)據(jù)位?！霸O(shè)置”狀態(tài)燈亮?xí)r有效。按壓該鍵從位到*低位循環(huán)。閃爍位為當(dāng)前有效位。

(3).“數(shù)調(diào)整”鍵：用來(lái)改變閃爍位的值。按壓該鍵、閃爍位的值從9-0循環(huán)改變。

(4).“設(shè)置使能”鍵：當(dāng)確認(rèn)各位數(shù)據(jù)輸入無(wú)誤后，按壓該鍵，系統(tǒng)將以該值作為標(biāo)準(zhǔn)值計(jì)算“偏差”，并自動(dòng)切換到“測(cè)量”狀態(tài)。

4.“面板晶振測(cè)試”功能

儀器面板左邊為通用、一體化的無(wú)源晶振測(cè)試及信號(hào)選擇功能區(qū)

(1).測(cè)量信號(hào)選擇：

①內(nèi)部基準(zhǔn)：選擇內(nèi)部時(shí)間基準(zhǔn)信號(hào)作為測(cè)量信號(hào)源?？捎脕?lái)檢查儀器是否工作正常。該機(jī)內(nèi)部基準(zhǔn)頻率為10MHz，偏差為2ppm。